دانلود جزوات دانشگاهی و آموزشی

مقاله ترجمه شده قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی-الگوریتم های موازی فرمت فایل دانلودی: .rarفرمت فایل اصلی: docxتعداد صفحات: 10حجم فایل: 882 کیلوبایت قیمت: 6000 تومان توضیحات: مقاله ترجمه شده با عنوانقابلیت اطمینان میکروالکترونیکی - الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ درختان خطای منسجم، در قالب فایل word و در حجم 10 صفحه، بهمراه فایل pdf اصل مقاله به زبان انگلیسی. عنوان لاتین مقاله: Parallel algorithm for finding modules of large-scale coherent fault trees سال چاپ: 2015 محل انتشار: Elsevier,Microelectronics Reliability 55 (2015) 1400-1403 اصل چکیده: The computation of the probability of the top event or minimal cut sets of fault trees is known as intractable NP-hard problems.Modularization can be used to reduce the computational cost of basic operations on fault trees efficiently. The idea of the linear time algorithm, as a very efficient and compact modules detecting algorithm, is visiting the nodes one by one with top-down depth-first left-most traversal of the tree. So the efficiency of the linear time algorithm is limited by nodes visiting time successively and serially, especially when confronting large-scale fault trees. Aiming at improving the efficienc, ...ادامه مطلب